Date: 2011-01-12

Departament/Institute: Departament d'Enginyeria Electrònica, Elèctrica i Automàtica Universitat Rovira i Virgili.

Language: eng

Identifier: http://hdl.handle.net/10803/52800

Source: TDX (Tesis Doctorals en Xarxa)

Author: Weidemann, Michaela Patricia

Director: Íñiguez Nicolau, Benjamí Kloes, Alexander

Format: application/pdf 144 p.

Publisher: Universitat Rovira i Virgili

Keywords: Mosfet Multi-gate Nanoscale Modeling

Title: Analytical predictive 2d modeling of pinch-off behavior in nanoscale multi-gate mosfets

Subject: 621.3 - Enginyeria elèctrica. Electrotècnia. Telecomunicacions