Date: 2017-07-05

Departament/Institute: Departament d'Enginyeria Electrònica, Elèctrica i Automàtica Universitat Rovira i Virgili.

Language: eng

Identifier: http://hdl.handle.net/10803/450516

Source: TDX (Tesis Doctorals en Xarxa)

Author: Gräf, Michael

Director: Klös, Alexander Iñiguez Nicolau, Benjamin

Format: 150 p. application/pdf

Publisher: Universitat Rovira i Virgili

Keywords: variability analytical modeling variabilidad modelado analítico variabilitat modelatge analític Tunnel-FET

Title: Two-Dimensional Analytical Modeling of Tunnel-FETs

Subject: 621.3 62 Enginyeria i arquitectura variability analytical modeling variabilidad modelado analítico variabilitat modelatge analític Tunnel-FET