Repositori institucional URV
Español Català English
TÍTOL:
Characterization and Compact Modeling of Flicker Noise and Piezoelectric Effect in Advanced Field Effect Transistors - TDX:2982

Data:2019-07-08
Departament/Institut:Departament d'Enginyeria Electrònica, Elèctrica i Automàtica
Universitat Rovira i Virgili.
Director:Iñiguez Nicolau, Benjamin
Autor:Muhea, Wondwosen Eshetu
Títol:Characterization and Compact Modeling of Flicker Noise and Piezoelectric Effect in Advanced Field Effect Transistors
Cerca el teu registre a:

Fitxers disponibles
FitxerDescripcióFormat
MemoriaMemòriaapplication/pdf

Informació

© 2011 Universitat Rovira i Virgili