Characterization and Compact Modeling of Flicker Noise and Piezoelectric Effect in Advanced Field Effect Transistors

Muhea, Wondwosen Eshetu

Type:

info:eu-repo/semantics/publishedVersion
info:eu-repo/semantics/doctoralThesis

Contributor:

Departament d'Enginyeria Electrònica, Elèctrica i Automàtica
Universitat Rovira i Virgili.

Títol:

Characterization and Compact Modeling of Flicker Noise and Piezoelectric Effect in Advanced Field Effect Transistors

Language:

eng

Subject:

621.3
62
53
004
Enginyeria i arquitectura
Flicker Noise
Compact Modeling
Ruido de Flicker
Modelo Compacto
Soroll de Flicker
TFT, HEMTs
Modelatge compacte

Format:

111 p.
application/pdf

Creator:

Muhea, Wondwosen Eshetu

Rights:

info:eu-repo/semantics/openAccess
ADVERTIMENT. L'accés als continguts d'aquesta tesi doctoral i la seva utilització ha de respectar els drets de la persona autora. Pot ser utilitzada per a consulta o estudi personal, així com en activitats o materials d'investigació i docència en els termes establerts a l'art. 32 del Text Refós de la Llei de Propietat Intel·lectual (RDL 1/1996). Per altres utilitzacions es requereix l'autorització prèvia i expressa de la persona autora. En qualsevol cas, en la utilització dels seus continguts caldrà indicar de forma clara el nom i cognoms de la persona autora i el títol de la tesi doctoral. No s'autoritza la seva reproducció o altres formes d'explotació efectuades amb finalitats de lucre ni la seva comunicació pública des d'un lloc aliè al repositori institucional de la Universitat Rovira i Virgili. Tampoc s'autoritza la presentació del seu contingut en una finestra o marc aliè a aquest repositori (framing). Aquesta reserva de drets afecta tant als continguts de la tesi com als seus resums i índexs.

Date:

2019-07-08

Publisher:

Universitat Rovira i Virgili

Subject:

621.3
62
53
004
Enginyeria i arquitectura
Flicker Noise
Compact Modeling
Ruido de Flicker
Modelo Compacto
Soroll de Flicker
TFT, HEMTs
Modelatge compacte

Language:

eng

Publisher:

Universitat Rovira i Virgili

Source:

TDX (Tesis Doctorals en Xarxa)

Identifier:

http://hdl.handle.net/10803/668270

Format:

111 p.
application/pdf

Keywords:

Flicker Noise
Compact Modeling
Ruido de Flicker
Modelo Compacto
Soroll de Flicker
TFT, HEMTs
Modelatge compacte

Date:	2019-07-08
Departament/Institute:	Departament d'Enginyeria Electrònica, Elèctrica i Automàtica Universitat Rovira i Virgili.
Director:	Iñiguez Nicolau, Benjamin
Author:	Muhea, Wondwosen Eshetu
Title:	Characterization and Compact Modeling of Flicker Noise and Piezoelectric Effect in Advanced Field Effect Transistors

Information