Tesis doctorals> Departament d'Enginyeria Electrònica, Elèctrica i Automàtica

Analytical Modeling of Ultrashort-Channel MOS Transistors

  • Datos identificativos

    Identificador: TDX:3835
    Autores:
    Yilmaz, Kerim
  • Otros:

    Fecha: 2022-02-24
    Departamento/Instituto: Departament d'Enginyeria Electrònica, Elèctrica i Automàtica Universitat Rovira i Virgili.
    Idioma: eng
    Identificador: http://hdl.handle.net/10803/674081
    Fuente: TDX (Tesis Doctorals en Xarxa)
    Autor: Yilmaz, Kerim
    Director: Klös, Alexander Gunther Lime, François Gilbert Marie
    Formato: 144 p. application/pdf
    Editor: Universitat Rovira i Virgili
    Palabra clave: quantum effects analytical modeling efectos cuánticos modelo analítico efectes quàntics GAA FET model analític
    Título: Analytical Modeling of Ultrashort-Channel MOS Transistors
    Materia: 621.3 62 53 0 Enginyeria i arquitectura quantum effects analytical modeling efectos cuánticos modelo analítico efectes quàntics GAA FET model analític
  • Palabras clave:

    621.3
    62
    53
    0
    Enginyeria i arquitectura
    quantum effects
    analytical modeling
    efectos cuánticos
    modelo analítico
    efectes quàntics
    GAA FET
    model analític
  • Documentos:

  • Cerca a google

    Search to google scholar