Enllaç font original: https://pubs.aip.org/aip/jap/article/135/4/044501/3061422/A-new-analytical-method-for-modeling-a-2D
Referència de l'ítem segons les normes APA: Lime, F; Iniguez, B; Kloes, A (2024). A new analytical method for modeling a 2D electrostatic potential in MOS devices, applicable to compact modeling. Journal Of Applied Physics, 135(4), 044501-. DOI: 10.1063/5.0188863
Referència a l'article segons font original: Journal Of Applied Physics. 135 (4): 044501-
DOI de l'article: 10.1063/5.0188863
Any de publicació de la revista: 2024-01-28
Entitat: Universitat Rovira i Virgili
Versió de l'article dipositat: info:eu-repo/semantics/publishedVersion
Data d'alta del registre: 2026-05-09
Autor/s de la URV: Iñiguez Nicolau, Benjamin / Lime, François Gilbert Marie
Departament: Enginyeria Electrònica, Elèctrica i Automàtica
URL Document de llicència: https://repositori.urv.cat/ca/proteccio-de-dades/
Tipus de publicació: Journal Publications
Autor segons l'article: Lime, F; Iniguez, B; Kloes, A
Accès a la llicència d'ús: https://creativecommons.org/licenses/by/3.0/es/
Àrees temàtiques: Physics, applied, Physics and astronomy (miscellaneous), Physics and astronomy (all), General physics and astronomy, Engenharias iii, Condensed matter physics, Ciências agrárias i, Atomic and molecular physics, and optics, Astronomia / física
Adreça de correu electrònic de l'autor: francois.lime@urv.cat, francois.lime@urv.cat, benjamin.iniguez@urv.cat, benjamin.iniguez@urv.cat