Enlace a la fuente original: https://pubs.aip.org/aip/jap/article/135/4/044501/3061422/A-new-analytical-method-for-modeling-a-2D
Referencia de l'ítem segons les normes APA: Lime, F; Iniguez, B; Kloes, A (2024). A new analytical method for modeling a 2D electrostatic potential in MOS devices, applicable to compact modeling. Journal Of Applied Physics, 135(4), 044501-. DOI: 10.1063/5.0188863
Referencia al articulo segun fuente origial: Journal Of Applied Physics. 135 (4): 044501-
DOI del artículo: 10.1063/5.0188863
Año de publicación de la revista: 2024-01-28
Entidad: Universitat Rovira i Virgili
Versión del articulo depositado: info:eu-repo/semantics/publishedVersion
Fecha de alta del registro: 2026-05-09
Autor/es de la URV: Iñiguez Nicolau, Benjamin / Lime, François Gilbert Marie
Departamento: Enginyeria Electrònica, Elèctrica i Automàtica
URL Documento de licencia: https://repositori.urv.cat/ca/proteccio-de-dades/
Tipo de publicación: Journal Publications
Autor según el artículo: Lime, F; Iniguez, B; Kloes, A
Acceso a la licencia de uso: https://creativecommons.org/licenses/by/3.0/es/
Áreas temáticas: Physics, applied, Physics and astronomy (miscellaneous), Physics and astronomy (all), General physics and astronomy, Engenharias iii, Condensed matter physics, Ciências agrárias i, Atomic and molecular physics, and optics, Astronomia / física
Direcció de correo del autor: francois.lime@urv.cat, francois.lime@urv.cat, benjamin.iniguez@urv.cat, benjamin.iniguez@urv.cat