Tesis doctorals> Departament d'Enginyeria Electrònica, Elèctrica i Automàtica

Sistema de medida de la transmisión óptica de bajo coste con LED a 1.45 um: obtención del coeficiente de absorción del c-Si a altas temperaturas y monitorización in-situ de la recristalización de capas a-SiCx:H sobre c-Si.

  • Dades identificatives

    Identificador: TDX:1915
    Handle: https://hdl.handle.net/20.500.11797/TDX1915
    Autors:
    Torres Chavez, Ivaldo

  • Altres:

    Data: 2006-10-26
    Departament/Institut: Departament d'Enginyeria Electrònica, Elèctrica i Automàtica Universitat Rovira i Virgili.
    Idioma: spa
    Identificador: http://hdl.handle.net/10803/8464 http://www.tdx.cat/TDX-0913107-094624
    Font: TDX (Tesis Doctorals en Xarxa)
    Autor: Torres Chavez, Ivaldo
    Director: Vetter, Michael Pallarés Marzal, Josep
    Format: application/pdf
    Editor: Universitat Rovira i Virgili
    Paraula Clau: a-SiCx:H Recristalización in-situ equipo de medida de transmisiónóptica LED Absorción Banda a banda Absorción Cargas libres c-Si
    Títol: Sistema de medida de la transmisión óptica de bajo coste con LED a 1.45 um: obtención del coeficiente de absorción del c-Si a altas temperaturas y monitorización in-situ de la recristalización de capas a-SiCx:H sobre c-Si.
    Matèria: 62 a-SiCx:H Recristalización in-situ equipo de medida de transmisiónóptica LED Absorción Banda a banda Absorción Cargas libres c-Si

  • Paraules clau:

    62
    a-SiCx:H
    Recristalización in-situ
    equipo de medida de transmisiónóptica
    LED
    Absorción Banda a banda
    Absorción Cargas libres
    c-Si

  • Documents:

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