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Compact modeling of the rf and noise behavior of multiple-gate mosfets

  • Datos identificativos

    Identificador: TDX:972
    Autores:
    Nae, Bogdan Mihai
    Resumen:
    La reducción de la tecnología MOSFET planar ha sido la opción tecnológica dominante en las últimas décadas. Sin embargo, hemos llegado a un punto en el que los materiales y problemas en los dispositivos surgen, abriendo la puerta para estructuras alternativas de los dispositivos. Entre estas estructuras se encuentran los dispositivos DG, SGT y Triple-Gate. Estas tres estructuras están estudiadas en esta tesis, en el contexto de rducir las dimensiones de los dispositivos a tamaños tales que los mecanismos cuánticos y efectos de calan coro deben tenerse n cuenta. Estos efectos vienen con una seria de desafíos desde el pun to de vista de modelación, unos de los más grandes siendo el tiempo y los recursos comprometidos para ejecutar las simulaciones. para resolver este problema, esta tesis propone modelos comlets analíticos y compactos para cada una de las geometrías, validos desde DC hasta el modo de operación en Rf para los nodos tecnológicos futuros. Dichos modelos se han extendido para analizar el ruido de alta frecuencia en estos diapositivos.
  • Otros:

    Fecha: 2011-04-29
    Departamento/Instituto: Departament d'Enginyeria Electrònica, Elèctrica i Automàtica Universitat Rovira i Virgili.
    Idioma: eng
    Identificador: http://hdl.handle.net/10803/38883
    Fuente: TDX (Tesis Doctorals en Xarxa)
    Autor: Nae, Bogdan Mihai
    Director: Lázaro, Antonio (Lázaro Guillén)
    Formato: application/pdf 296 p.
    Editor: Universitat Rovira i Virgili
    Palabra clave: Compact modeling RF Noise Multiple-Gate MOSFET
    Título: Compact modeling of the rf and noise behavior of multiple-gate mosfets
    Materia: 621 - Enginyeria mecànica en general. Tecnologia nuclear. Electrotècnia. Maquinària 53 - Física
  • Palabras clave:

    621 - Enginyeria mecànica en general. Tecnologia nuclear. Electrotècnia. Maquinària
    53 - Física
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