Tesis doctorals> Departament d'Enginyeria Electrònica, Elèctrica i Automàtica

Two-Dimensional Analytical Modeling of Tunnel-FETs

  • Identification data

    Identifier: TDX:2576
    Authors:
    Gräf, Michael
  • Others:

    Date: 2017-07-05
    Departament/Institute: Departament d'Enginyeria Electrònica, Elèctrica i Automàtica Universitat Rovira i Virgili.
    Language: eng
    Identifier: http://hdl.handle.net/10803/450516
    Source: TDX (Tesis Doctorals en Xarxa)
    Author: Gräf, Michael
    Director: Klös, Alexander Iñiguez Nicolau, Benjamin
    Format: 150 p. application/pdf
    Publisher: Universitat Rovira i Virgili
    Keywords: variability analytical modeling variabilidad modelado analítico variabilitat modelatge analític Tunnel-FET
    Title: Two-Dimensional Analytical Modeling of Tunnel-FETs
    Subject: 621.3 62 Enginyeria i arquitectura variability analytical modeling variabilidad modelado analítico variabilitat modelatge analític Tunnel-FET
  • Keywords:

    621.3
    62
    Enginyeria i arquitectura
    variability
    analytical modeling
    variabilidad
    modelado analítico
    variabilitat
    modelatge analític
    Tunnel-FET
  • Documents:

  • Cerca a google

    Search to google scholar