Date: 2017-07-05
Departament/Institute: Departament d'Enginyeria Electrònica, Elèctrica i Automàtica Universitat Rovira i Virgili.
Language: eng
Identifier: http://hdl.handle.net/10803/450516
Source: TDX (Tesis Doctorals en Xarxa)
Author: Gräf, Michael
Director: Klös, Alexander Iñiguez Nicolau, Benjamin
Format: 150 p. application/pdf
Publisher: Universitat Rovira i Virgili
Keywords: variability analytical modeling variabilidad modelado analítico variabilitat modelatge analític Tunnel-FET
Title: Two-Dimensional Analytical Modeling of Tunnel-FETs
Subject: 621.3 62 Enginyeria i arquitectura variability analytical modeling variabilidad modelado analítico variabilitat modelatge analític Tunnel-FET
Repositori URV