Fecha: 2017-07-05
Departamento/Instituto: Departament d'Enginyeria Electrònica, Elèctrica i Automàtica Universitat Rovira i Virgili.
Idioma: eng
Identificador: http://hdl.handle.net/10803/450516
Fuente: TDX (Tesis Doctorals en Xarxa)
Autor: Gräf, Michael
Director: Klös, Alexander Iñiguez Nicolau, Benjamin
Formato: 150 p. application/pdf
Editor: Universitat Rovira i Virgili
Palabra clave: variability analytical modeling variabilidad modelado analítico variabilitat modelatge analític Tunnel-FET
Título: Two-Dimensional Analytical Modeling of Tunnel-FETs
Materia: 621.3 62 Enginyeria i arquitectura variability analytical modeling variabilidad modelado analítico variabilitat modelatge analític Tunnel-FET
Repositori URV