Tesis doctoralsDepartament d'Enginyeria Electrònica, Elèctrica i Automàtica

Characterization and Compact Modeling of Flicker Noise and Piezoelectric Effect in Advanced Field Effect Transistors

  • Identification data

    Identifier:  TDX:2982
    Handle: https://hdl.handle.net/20.500.11797/TDX2982
    Authors:  Muhea, Wondwosen Eshetu

  • Others:

    Date: 2019-07-08
    Departament/Institute: Departament d'Enginyeria Electrònica, Elèctrica i Automàtica; Universitat Rovira i Virgili.
    Language: eng
    Identifier: http://hdl.handle.net/10803/668270
    Source: TDX (Tesis Doctorals en Xarxa)
    Author: Muhea, Wondwosen Eshetu
    Director: Iñiguez Nicolau, Benjamin
    Format: 111 p.; application/pdf
    Publisher: Universitat Rovira i Virgili
    Keywords: Flicker Noise; Compact Modeling; Ruido de Flicker; Modelo Compacto; Soroll de Flicker; TFT, HEMTs; Modelatge compacte
    Title: Characterization and Compact Modeling of Flicker Noise and Piezoelectric Effect in Advanced Field Effect Transistors
    Subject: 621.3; 62; 53; 004; Enginyeria i arquitectura; Flicker Noise; Compact Modeling; Ruido de Flicker; Modelo Compacto; Soroll de Flicker; TFT, HEMTs; Modelatge compacte

  • Keywords:

    621.3
    62
    53
    004
    Enginyeria i arquitectura
    Flicker Noise
    Compact Modeling
    Ruido de Flicker
    Modelo Compacto
    Soroll de Flicker
    TFT, HEMTs
    Modelatge compacte

  • Documents:

    Memoria

  • Cerca a google

    Search to google scholar