Tesis doctorals> Departament d'Enginyeria Electrònica, Elèctrica i Automàtica

Characterization and Compact Modeling of Flicker Noise and Piezoelectric Effect in Advanced Field Effect Transistors

  • Datos identificativos

    Identificador: TDX:2982
    Handle: http://hdl.handle.net/20.500.11797/TDX2982

  • Autores:

    Muhea, Wondwosen Eshetu

  • Otros:

    Fecha: 2019-07-08
    Departamento/Instituto: Departament d'Enginyeria Electrònica, Elèctrica i Automàtica Universitat Rovira i Virgili.
    Idioma: eng
    Identificador: http://hdl.handle.net/10803/668270
    Fuente: TDX (Tesis Doctorals en Xarxa)
    Autor: Muhea, Wondwosen Eshetu
    Director: Iñiguez Nicolau, Benjamin
    Formato: 111 p. application/pdf
    Editor: Universitat Rovira i Virgili
    Palabra clave: Flicker Noise Compact Modeling Ruido de Flicker Modelo Compacto Soroll de Flicker TFT, HEMTs Modelatge compacte
    Título: Characterization and Compact Modeling of Flicker Noise and Piezoelectric Effect in Advanced Field Effect Transistors
    Materia: 621.3 62 53 004 Enginyeria i arquitectura Flicker Noise Compact Modeling Ruido de Flicker Modelo Compacto Soroll de Flicker TFT, HEMTs Modelatge compacte

  • Palabras clave:

    621.3
    62
    53
    004
    Enginyeria i arquitectura
    Flicker Noise
    Compact Modeling
    Ruido de Flicker
    Modelo Compacto
    Soroll de Flicker
    TFT, HEMTs
    Modelatge compacte

  • Documentos:

    Memoria

  • Cerca a google

    Search to google scholar