Characterization and Compact Modeling of Flicker Noise and Piezoelectric Effect in Advanced Field Effect Transistors

Fecha: 2019-07-08

Departamento/Instituto: Departament d'Enginyeria Electrònica, Elèctrica i Automàtica; Universitat Rovira i Virgili.

Idioma: eng

Identificador: http://hdl.handle.net/10803/668270

Fuente: TDX (Tesis Doctorals en Xarxa)

Autor: Muhea, Wondwosen Eshetu

Director: Iñiguez Nicolau, Benjamin

Formato: 111 p.; application/pdf

Editor: Universitat Rovira i Virgili

Palabra clave: Flicker Noise; Compact Modeling; Ruido de Flicker; Modelo Compacto; Soroll de Flicker; TFT, HEMTs; Modelatge compacte

Título: Characterization and Compact Modeling of Flicker Noise and Piezoelectric Effect in Advanced Field Effect Transistors

Materia: 621.3; 62; 53; 004; Enginyeria i arquitectura; Flicker Noise; Compact Modeling; Ruido de Flicker; Modelo Compacto; Soroll de Flicker; TFT, HEMTs; Modelatge compacte