Tesis doctorals> Departament d'Enginyeria Electrònica, Elèctrica i Automàtica

Compact Modeling of Intrinsic Capacitances in Double-Gate Tunnel-FETs

  • Datos identificativos

    Identificador: TDX:3102
    Autores:
    Farokhnejad, Atieh
  • Otros:

    Fecha: 2020-07-16
    Departamento/Instituto: Departament d'Enginyeria Electrònica, Elèctrica i Automàtica Universitat Rovira i Virgili.
    Idioma: eng
    Identificador: http://hdl.handle.net/10803/669806
    Fuente: TDX (Tesis Doctorals en Xarxa)
    Autor: Farokhnejad, Atieh
    Director: Iñiguez Nicolau, Benjamin Marie Lime, François Gilbert Klös, Alexander Gunther
    Formato: 120 p. application/pdf
    Editor: Universitat Rovira i Virgili
    Palabra clave: Capacitance model compact modeling Tunnel-FET model de capacitància model compacte FET túnel
    Título: Compact Modeling of Intrinsic Capacitances in Double-Gate Tunnel-FETs
    Materia: 621.3 62 Enginyeria i arquitectura Capacitance model compact modeling Tunnel-FET model de capacitància model compacte FET túnel
  • Palabras clave:

    621.3
    62
    Enginyeria i arquitectura
    Capacitance model
    compact modeling
    Tunnel-FET
    model de capacitància
    model compacte
    FET túnel
  • Documentos:

  • Cerca a google

    Search to google scholar